在精密制造領域，厚度測量看似簡單，實則暗藏玄1機。當測量對象是厚度不足1微米的超薄膜時，傳統(tǒng)的測厚方法往往會陷入一個兩難困境：壓力大了，膜被壓穿或壓扁，數據失真；壓力小了，普通測厚儀根本無法穩(wěn)定讀數。
這就是超薄膜測厚的核心難題。
Fujiwork HKT-Master0.01BB，正是為解決這一難題而生的專業(yè)級測厚儀。它以0.14N的極低測量壓力和0.01μm的高分辨率，實現了“壓不壞、測得準"的雙重突破。
超薄膜——無論是鋰電池隔膜、光學膜、功能性涂層，還是FPC覆蓋膜——都具有一個共同特點：薄且脆弱。
當使用傳統(tǒng)測厚儀測量這類材料時，主要面臨三大挑戰(zhàn)：
1. 壓力損傷導致數據偏差
傳統(tǒng)測厚儀的測量壓力通常在0.5N以上。對于厚度不足1μm的超薄膜來說，這個壓力足以將膜層壓扁甚至壓穿。測出的厚度自然比實際厚度小，而且這種偏差無法通過校準消除——因為每次壓痕的深度都是變量。
2. 人為操作引入的誤差
手動升降測頭時，操作者的手速、力度、穩(wěn)定性都會影響測量結果。同一片樣品，不同操作者可能測出不同的數值；即使是同一操作者，不同時間點的測量結果也可能不一致。
3. 重復性難以保證
超薄膜的測量對重復精度要求高。如果測厚儀本身的重復性不夠好，或者測量環(huán)境存在微小振動，都會導致讀數波動，無法獲得可信的厚度數據。
這些挑戰(zhàn)的核心，歸根結底是同一個問題：如何在不對樣品造成損傷的前提下，獲得高重復性的精確讀數？
Fujiwork HKT-Master0.01BB給出了答案。
HKT-Master0.01BB最核心的技術突破，在于其可調節(jié)的超低測量壓力，低可達0.14N。
這個數值意味著什么？大約相當于一張普通A4紙輕輕落在樣品表面的重量。對于1μm以下的超薄膜而言，這個壓力幾乎可以忽略不計，真正實現了無損測量。
無論是脆弱的鋰電池隔膜、敏感的光學涂層，還是柔軟的FPC覆蓋膜，HKT-Master0.01BB都能在不破壞樣品的前提下，獲取真實的厚度數據。
在低壓力下保持高精度，才是真正的技術實力。HKT-Master0.01BB的分辨率達到0.01μm，重復精度為0.1μm（測頭垂直重復性）。
這意味著什么？即使是厚度不足1μm的超薄膜，它也能穩(wěn)定、精準地測量，且多次測量結果高度一致。這種精度水平，足以滿足薄膜研發(fā)和生產中的質量控制要求。
傳統(tǒng)的測厚儀需要操作者手動升降測頭，手速和力度的微小差異都會影響測量結果。HKT-Master0.01BB采用腳踏式空氣釋放裝置控制測頭的勻速升降。
操作者可以雙手持樣、精確定位，全不用擔心手部抖動或升降速度不均帶來的誤差。這對于需要定點測量微小區(qū)域的光學膜和涂層來說，尤其重要。
設備的設計理念是“消除操作者差異"——讓不同的人、在不同的時間點，都能得到一致的測量結果。
HKT-Master0.01BB的測量臺面采用Φ50陶瓷材質。相比于金屬臺面，陶瓷具有更高的硬度、更好的耐磨性，以及更優(yōu)異的熱穩(wěn)定性。
這意味著測量基準面長期保持平整，不易因磨損或溫度變化而產生偏差，為每一次測量提供穩(wěn)定可靠的基準。
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 型號 | HKT-Master0.01BB（標準型）/ HKT-Master0.01BBL（大型臺面型） |
| 測量范圍 | 200μm |
| 分辨率 | 0.01μm |
| 重復精度 | 0.1μm（測頭垂直重復性） |
| 線性度 | ±0.2% |
| 最小測量壓力 | 0.14N（可調） |
| 測頭 | R30碳化鎢球面 |
| 測量臺面 | Φ50陶瓷 |
| 輸出 | RS232C |
| 電源 | AC100V~240V |
| 選配件 | 專用軟件、備用測頭、手泵 |
*數據來源：Fujiwork HKT-Master0.01BB產品規(guī)格*
隔膜厚度直接影響電池的能量密度和安全性。HKT-Master0.01BB的低測力設計確保不會壓穿或壓傷隔膜，獲得真實的厚度數據。
光學膜的厚度均勻性直接影響顯示效果。0.01μm的分辨率能夠精準捕捉微小的厚度波動，為工藝優(yōu)化提供可靠依據。
涂層厚度決定產品的耐磨性、附著力、光學透過率等關鍵性能。HKT-Master0.01BB可以在不破壞涂層的前提下，準確測量亞微米級的涂層厚度。
柔性電路板的覆蓋膜柔軟易變形。0.14N的極低測力確保不會壓扁材料，測出的厚度真實可靠。
超薄膜生產企業(yè)的質檢部門：需要高頻次、高精度測量膜厚，同時擔心傳統(tǒng)測厚儀壓傷產品
涂層工藝研發(fā)人員：需要在工藝開發(fā)階段準確獲取涂層厚度數據，以便優(yōu)化工藝參數
FPC制造商的來料檢驗：需要驗證覆蓋膜厚度是否符合規(guī)格，確保后續(xù)貼合成品率
第三方檢測機構：需要出具準確的厚度檢測報告，設備必須滿足精密測量要求
超薄膜測厚的難題，歸根結底是“如何在不損傷樣品的前提下獲得高重復性的精確讀數"。傳統(tǒng)測厚儀要么壓力太大，要么精度不夠，總在“壓壞"和“測不準"之間左右為難。
Fujiwork HKT-Master0.01BB給出了一個簡潔而有效的答案：0.14N的極低測力 + 0.01μm的高分辨率 + 腳踏式氣動升降消除人為誤差。
